點(dian)擊(ji)數:3637發布(bu):2018-01-01 來源: 探傷機_磁粉探傷機_熒光磁粉探傷機_通用磁粉探傷機_江蘇中凱探傷設備制造有限公司
任何一(yi)款儀器都會有(you)誤差(cha),但(dan)是有(you)些影(ying)響因(yin)素我(wo)們是可以盡可能去避免減(jian)小的。那么(me)對于超聲波測厚(hou)儀的話,我(wo)們應該如何去處理這些常見問題呢?
超(chao)聲波測厚儀(yi)常見(jian)問題(ti)解決:
1.測(ce)量前應清(qing)除被測(ce)物體表面(mian)(mian)所有(you)的(de)灰(hui)塵、污垢及(ji)銹蝕物,鏟除油漆等復蓋物。過份粗糙的(de)表面(mian)(mian)會引起測(ce)量誤差(cha),甚至(zhi)儀(yi)器(qi)無讀數。
2.測(ce)(ce)量(liang)前(qian)應(ying)盡量(liang)使被(bei)測(ce)(ce)材料(liao)表(biao)面(mian)光(guang)滑,可(ke)使用(yong)磨、拋、銼(cuo)等方法使其光(guang)滑。還可(ke)使用(yong)高(gao)粘度耦(ou)合劑。測(ce)(ce)量(liang)圓柱型材料(liao),如管(guan)子、油桶等,選擇(ze)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)軸(zhou)(zhou)(zhou)線(xian)與(yu)被(bei)測(ce)(ce)材料(liao)軸(zhou)(zhou)(zhou)線(xian)相交(jiao)時(shi)為最(zui)理想情況。簡單地說,將探(tan)(tan)(tan)頭(tou)與(yu)被(bei)測(ce)(ce)材料(liao)耦(ou)合,然后圍繞被(bei)測(ce)(ce)物軸(zhou)(zhou)(zhou)線(xian)轉動探(tan)(tan)(tan)頭(tou)或者垂直于(yu)被(bei)測(ce)(ce)物軸(zhou)(zhou)(zhou)線(xian)平行(xing)移動探(tan)(tan)(tan)頭(tou),磁粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀使探(tan)(tan)(tan)頭(tou)延遲塊的(de)中線(xian)與(yu)被(bei)測(ce)(ce)物接觸,選擇(ze)穩定的(de)讀數,作為材料(liao)的(de)準確厚度。
3.對于不同(tong)直徑的(de)(de)(de)被測(ce)物(wu)選(xuan)用不同(tong)的(de)(de)(de)延遲(chi)塊對測(ce)量會有幫助的(de)(de)(de)。可以在被測(ce)物(wu)表(biao)(biao)面(mian)蒙(meng)上一塊細砂(sha)紙,然后前后移(yi)動探頭,會很容易(yi)就(jiu)把(ba)在探頭延遲(chi)塊前端磨出圓弧。為了(le)得到一個(ge)令(ling)人滿意的(de)(de)(de)超聲響應,被測(ce)材料的(de)(de)(de)另一表(biao)(biao)面(mian)必須與被測(ce)面(mian)平行或(huo)同(tong)軸,否則將(jiang)引起測(ce)量誤差或(huo)根(gen)本無讀(du)數顯示。
4.材料的(de)厚度與超聲(sheng)波(bo)傳播(bo)速度均受溫(wen)度的(de)影響,若對測(ce)量精度要求較(jiao)高時,可采用試塊(kuai)對比(bi)法,即用相同材料的(de)試塊(kuai)在(zai)相同溫(wen)度條件進行測(ce)量,并(bing)求得(de)溫(wen)度補償系(xi)數,用此系(xi)數修正被(bei)測(ce)工件的(de)實測(ce)值。
5.對于一些如纖維、多孔、粗粒子材料,它們會造成超聲波的大量散射和能量衰減,磁粉探傷儀以致出現反常的讀數甚至無讀數,在這種情況下,則說明該材料不適于用此測厚儀測試。對不同材料在不同條件下進行精確測量,校準試塊的材料越接近于被測材料,測量就越精確。理想的參考試塊將是一組被測材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補償校正因素。公司網址:dbabxq.cn