射線探傷方法是磁粉探傷機中五大常規探(tan)傷(shang)方(fang)法之一，磁粉(fen)探(tan)傷(shang)機中的射(she)線探(tan)傷(shang)是利用射(she)線的穿透性和直線性來(lai)探(tan)傷(shang)的方(fang)法。

常(chang)用于(yu)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)機探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)射(she)線(xian)(xian)有(you)x光和同(tong)位素發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)γ射(she)線(xian)(xian)，分別(bie)稱為x光探(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。當這(zhe)些(xie)射(she)線(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)(guo)物質時，該物質的(de)(de)(de)密(mi)(mi)度(du)越大，射(she)線(xian)(xian)強(qiang)度(du)減弱得(de)越多。因此(ci)，用射(she)線(xian)(xian)來(lai)照射(she)待(dai)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)零部(bu)件(jian)時，若(ruo)其(qi)(qi)內部(bu)有(you)氣(qi)孔、夾(jia)渣等(deng)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)線(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)(guo)有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑(jing)比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)物質密(mi)(mi)度(du)要小得(de)多，其(qi)(qi)強(qiang)度(du)就(jiu)減弱得(de)少些(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)大些(xie)，若(ruo)用底片接收，則感(gan)光量(liang)就(jiu)大些(xie)，就(jiu)可(ke)以從底片上反(fan)映出(chu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂(chui)直(zhi)于(yu)射(she)線(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平面(mian)投影(ying)；若(ruo)用其(qi)(qi)它接收器也同(tong)樣可(ke)以用儀表來(lai)反(fan)映缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂(chui)直(zhi)于(yu)射(she)線(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平面(mian)投影(ying)和射(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)過(guo)(guo)量(liang)。

一般情況下，磁粉探傷機中的射線探傷是不易發現裂紋的，或者說，磁粉探傷機中的射線探傷對裂紋是不敏感的。因此，磁粉探傷機中的射線探傷比較適用于體積型缺陷探傷。公司網址：dbabxq.cn