無損磁粉探傷機檢測儀器如何檢定和校準方法
磁(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)機是用于檢測鐵磁(ci)(ci)性材料(liao)表(biao)面(mian)或(huo)(huo)近表(biao)面(mian)的(de)裂紋它缺(que)陷(xian)的(de)專用設備，其工(gong)作原理(li)是通過磁(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)機產生磁(ci)(ci)流對被測工(gong)件(jian)進行磁(ci)(ci)化，在(zai)其表(biao)面(mian)上均勻(yun)噴灑磁(ci)(ci)粉(fen)，觀察工(gong)件(jian)上磁(ci)(ci)粉(fen)分(fen)布情(qing)況(kuang)，以(yi)檢測其工(gong)件(jian)表(biao)面(mian)的(de)裂紋或(huo)(huo)其它缺(que)磁(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)機結(jie)構型(xing)(xing)式一般分(fen)為固定式和(he)便(bian)攜(xie)型(xing)(xing)。
現行(xing)的(de)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)機檢(jian)定規(gui)程是JJG(機械)100-92《磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)機檢(jian)定規(gui)程》，磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)機適用于交(jiao)流(liu)(liu)、直流(liu)(liu)、半波整(zheng)流(liu)(liu)及全(quan)波整(zheng)流(liu)(liu)磁(ci)(ci)(ci)傷(shang)機(包括(kuo)(kuo)熒光(guang)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)機)的(de)檢(jian)定。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)機檢(jian)定的(de)項目(mu)包括(kuo)(kuo):調(diao)置(zhi)每檔示值相對誤差、調(diao)流(liu)(liu)裝(zhuang)置(zhi) *大輸出、指(zhi)(zhi)示表指(zhi)(zhi)示誤化時(shi)間、試(shi)件(jian)表面磁(ci)(ci)(ci)場強度、 *高(gao)允許溫度和允許溫升(sheng)以觀、動(dong)作功能和絕緣性能。根據磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)機的(de)檢(jian)定項目(mu)的(de)，檢(jian)定儀器(qi)(qi)和試(shi)件(jian)包括(kuo)(kuo):直流(liu)(liu)兆歐表，耐壓(ya)試(shi)驗(yan)變壓(ya)器(qi)(qi)，交(jiao)、標準電(dian)壓(ya)表、電(dian)流(liu)(liu)表，直流(liu)(liu)互感器(qi)(qi)，直流(liu)(liu)分流(liu)(liu)器(qi)(qi)，半導體(ti)溫，計時(shi)裝(zhuang)置(zhi)，剩磁(ci)(ci)(ci)檢(jian)定儀，Φ25mm×460mm的(de)T2紫銅(tong)棒，Φ30mm×300mm、86℃水淬火、480℃回(hui)火、38～RC、45#鋼棒一根。
其具體的(de)(de)(de)檢(jian)定(ding)(ding)方(fang)法在(zai)檢(jian)定(ding)(ding)規程中敘述很詳細(xi)，在(zai)此就(jiu)不述。檢(jian)定(ding)(ding)符合要(yao)求(qiu)的(de)(de)(de)磁粉(fen)探傷(shang)機發檢(jian)定(ding)(ding)合格證書，不符合的(de)(de)(de)磁粉(fen)探傷(shang)機發檢(jian)定(ding)(ding)結果(guo)通知書，并應注明不合格項(xiang)目(mu)。
磁粉(fen)探傷機周期(qi)一般為一年。
射(she)線(xian)探傷機(ji)的主(zhu)要技(ji)術指(zhi)標和(he)檢(jian)定(ding)方(fang)法X射(she)線(xian)探傷機(ji)是(shi)指(zhi)用于工業產(chan)品部件無損檢(jian)測的X射(she)線(xian)機(ji)。它是(shi)通過高速(su)電子轟擊陽極靶產(chan)生X射(she)線(xian)，透照(zhao)被(bei)檢(jian)部件，并在膠片或其它成像裝置上得到部件的內部結構圖(tu)此(ci)判斷被(bei)檢(jian)驗(yan)部件有(you)無缺陷。X射(she)線(xian)探傷機(ji)可分(fen)為固(gu)定(ding)動式(shi))、攜帶式(shi)定(ding)向和(he)周向X射(she)線(xian)探傷機(ji)。
現行退磁機的X射線(xian)(xian)探傷機檢定(ding)規程是JJG40-2001《X射線(xian)(xian)探檢定(ding)規程》，適用(yong)于額定(ding)管(guan)電壓≤400kV的X射線(xian)(xian)探傷機次和后續檢定(ding)。檢定(ding)項目即計量性能(neng)要求包括:空(kong)氣比(bi)釋動(dong)(dong)能(neng)率(lv)、穿透力、重復(fu)性、輻射角、計時器誤差(cha)、透照射線(xian)(xian)空(kong)氣比(bi)釋動(dong)(dong)能(neng)率(lv)。
檢定(ding)X射(she)線(xian)探(tan)傷機的設(she)備主(zhu)要包括(kuo):劑量計(ji)(ji)、計(ji)(ji)、標準試塊、黑度(du)計(ji)(ji)或測微光(guang)度(du)計(ji)(ji)、X射(she)線(xian)防護水計(ji)(ji)、X光(guang)膠(jiao)片和觀片燈等。其主(zhu)要檢定(ding)設(she)備劑量計(ji)(ji)是放(fang)大器、開關(guan)穩壓(ya)電(dian)(dian)源、轉換(huan)開關(guan)、液晶數字顯示器組室(shi)加(jia)有(you)一(yi)定(ding)的極(ji)化電(dian)(dian)壓(ya)，當X射(she)線(xian)照射(she)電(dian)(dian)離(li)室(shi)時，磁粉(fen)探(tan)傷機使空氣電(dian)(dian)離(li)，形(xing)成的離(li)子(zi)被(bei)中心電(dian)(dian)極(ji)收(shou)集(ji)成電(dian)(dian)離(li)電(dian)(dian)流。
射(she)線(xian)劑量成正(zheng)比，微弱的電(dian)離(li)電(dian)流經過(guo)放(fang)大器放(fang)大由液晶顯示器顯示出來。
其具體的(de)(de)檢定(ding)(ding)(ding)方(fang)法在檢定(ding)(ding)(ding)規(gui)程中敘述(shu)的(de)(de)很詳細不再贅述(shu)。熒(ying)光磁粉探(tan)傷機檢定(ding)(ding)(ding)符合(he)要求(qiu)的(de)(de)X射(she)線探(tan)傷機發(fa)檢定(ding)(ding)(ding)合(he)符合(he)要求(qiu)的(de)(de)X射(she)線探(tan)傷機發(fa)檢定(ding)(ding)(ding)結果通知書，并應格項(xiang)目。檢定(ding)(ding)(ding)周期一(yi)般為一(yi)年(nian)。
5結論我國(guo)現行計(ji)量(liang)法(fa)法(fa)律、法(fa)規中明(ming)確對計(ji)量(liang)器(qi)(qi)具提要(yao)求(qiu)，而檢(jian)(jian)定(ding)是我國(guo)特(te)有的(de)(de)對計(ji)量(liang)器(qi)(qi)具實施管(guan)理的(de)(de)政要(yao)求(qiu)。隨著我國(guo)加入世(shi)貿(mao)組(zu)織，政府職能的(de)(de)進一步轉(zhuan)器(qi)(qi)具的(de)(de)管(guan)理也(ye)必然會產生(sheng)變化。除了涉(she)及法(fa)律法(fa)規須的(de)(de)計(ji)量(liang)器(qi)(qi)具外，大多數測(ce)量(liang)設備將根據使用要(yao)求(qiu)進識別(bie)無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)儀器(qi)(qi)的(de)(de)技(ji)術特(te)性，確保(bao)(bao)無損(sun)檢(jian)(jian)測(ce)儀器(qi)(qi)技(ji)穩定(ding)性、可(ke)靠性，便攜式探傷機為檢(jian)(jian)測(ce)人員對材料特(te)性做出正(zheng)確評靠的(de)(de)保(bao)(bao)障，確保(bao)(bao)其持續滿足產品檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)要(yao)求(qiu)。
